XRD多晶物相分析课程笔记


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原子散射因子 (f)

这是X射线衍射理论的基石,描述了单个中性原子对X射线的散射能力。它被定义为一个原子中所有电子相干散射波的合成振幅与单个电子相干散射波的振幅之比。由于原子内电子云的分布,来自不同位置的电子的散射波之间会产生相位差,导致干涉相消,因此原子的散射能力并不简单的是其电子数(Z)的倍数。

原子散射因子主要依赖于两个因素:原子的种类(即原子序数Z)和散射角(通常用 sinθ/λ 表示)。Z越大,电子越多,散射能力越强。散射角越大,原子内部的相位差越显著,干涉相消效应越强,导致原子散射因子f的值减小。

$f = \frac{A_{atom}}{A_e}$

结构因子 (F_HKL)

这是连接晶体结构与衍射强度的核心桥梁。它描述了一个晶胞中所有原子对(HKL)晶面衍射的相干散射波的合成振幅。结构因子不仅包含振幅信息,还包含相位信息,因此它是一个复数。原子的种类决定了其散射能力(fⱼ),而其在晶胞中的精确位置(xⱼ, yⱼ, zⱼ)则决定了其散射波的相位。

结构因子的计算是将在晶胞中所有N个原子的散射波进行矢量(复数)求和。

$$F_{HKL} = \sum_{j=1}^{N} f_j e^{2\pi i (Hx_j + Ky_j + Lz_j)}$$

我们实际测量的是衍射强度I,它正比于结构因子振幅的平方。这意味着强度信息丢失了相位信息。

$$I \propto |F_{HKL}|^2$$

当晶胞中原子的位置因对称性而使得对某一(HKL)晶面的散射波矢量和恰好为零时,该衍射就不会出现,这就是系统消光现象。因此,通过分析哪些衍射峰“缺席”,我们就能推断出晶体的对称性和点阵类型(例如体心立方、面心立方)。

布拉格方程 (Bragg's Law)

如果说结构因子决定了哪些衍射峰“可能”出现及其强度,那么布拉格方程则精确地规定了这些衍射峰出现的位置(衍射角θ)。它将宏观的衍射角与微观的晶面间距(d_hkl)联系起来,是物相定性分析的根本依据。该方程描述了X射线被一系列等间距的晶面反射后,发生相长干涉的几何条件。

$$2d_{hkl} \sin\theta = n\lambda$$

在实际应用中,n通常取1。通过衍射仪测得衍射峰所在的2θ角,已知X射线的波长λ,就可以精确计算出对应晶面的间距d_hkl,从而获得材料的“指纹”信息。

积分强度公式 (Integrated Intensity Formula)

这是一个集大成的公式,综合了所有影响多晶样品衍射峰强度的物理因素,是物相定量分析的理论基础。它描述了一个衍射峰的总能量,而不仅仅是峰高。

$$I_{HKL} = I_0 K \left( \frac{e^4}{m_e^2 c^4} \right) \frac{\lambda^3 V}{V_c^2} \cdot |F_{HKL}|^2 \cdot P \cdot L(\theta) \cdot A(\theta) \cdot e^{-2M}$$

为了便于理解和计算,通常将其简化为各个因子的乘积。其中,除了与仪器和基本物理常数相关的常数项外,关键影响因子包括:结构因子|F_HKL|²(晶体结构)、多重性因子P(晶体对称性)、洛伦兹-偏振因子L(θ)(衍射几何)、吸收因子A(θ)(样品吸收)和温度因子e⁻²ᴹ(原子热振动)。

物相定量分析基本原理

定量分析的核心思想是:在多相混合物中,任一物相α的衍射强度正比于其在样品中的含量。然而,由于不同物相的吸收系数不同,它们的存在会影响整个样品的X射线吸收,使得强度与含量的关系变得复杂。

对于多相混合物中的物相 j,其某衍射峰的强度可以表示为:

$$I_j = \frac{K_j f_j}{\bar{\mu}}$$

其中Kj是与物相 j 的结构和实验条件相关的常数,fj是物相 j 的体积分数,而μ̄是整个混合物的平均线吸收系数。问题在于 μ̄ 本身就是所有物相含量和各自吸收系数的函数,这使得直接求解变得困难。

$$\bar{\mu} = \sum_{i=1}^{N} f_i \mu_i$$

解决这一问题的关键在于巧妙地利用强度比来消除μ̄的影响。以两相混合物(α相和β相)为例,我们分别写出它们的强度表达式:

$$I_\alpha = \frac{K_\alpha f_\alpha}{\bar{\mu}}$$

$$I_\beta = \frac{K_\beta f_\beta}{\bar{\mu}}$$

将两式相除,μ̄被消去:

$$\frac{I_\alpha}{I_\beta} = \frac{K_\alpha f_\alpha}{K_\beta f_\beta}$$

整理后得到含量比与强度比的直接关系,这是所有基于比值法的定量分析(包括内标法、K值法)的出发点。

$$\frac{f_\alpha}{f_\beta} = \left( \frac{K_\beta}{K_\alpha} \right) \frac{I_\alpha}{I_\beta}$$

通过引入标准物质(内标法)或使用预先标定的常数K(K值法),我们就可以通过测量强度比来计算含量比,最终确定各物相的含量。

基于我们之前讨论的核心理论,这里整理了三个关键的对比表格,旨在通过系统性的归纳,让您更清晰地理解不同实验方法、关键部件和分析策略之间的差异、优缺点及适用范围。


表1:德拜照相法 vs. 现代衍射仪法

此表对比了传统的胶片记录方法与现代主流的电子探测器方法的根本区别。

对比维度德拜照相法 (Debye-Scherrer)现代衍射仪法 (Diffractometer)
工作原理单色X射线照射样品,形成一系列衍射圆锥,被环形底片记录为弧线。采用Bragg-Brentano聚焦几何,通过θ/2θ联动扫描,用计数器逐点记录衍射强度。
数据记录感光胶片(底片),记录整个衍射花样。电子探测器(计数器),记录衍射强度随2θ角变化的数字化信号。
数据形式衍射弧线照片,需要后期手动测量弧线间距来计算d值。直观的衍射图谱(Intensity vs. 2θ),可直接读取峰位和强度。
精度与准确度较低。受限于底片收缩、手动测量误差、相机半径不准等因素。。测角仪精度极高,数据处理自动化,结果可靠。
强度测量不准确。只能通过弧线的黑度进行粗略的半定量估计。准确且线性。强度数据可直接用于精确的物相定量分析。
效率与自动化效率低。需要长时间曝光(数小时),且后续处理繁琐。效率高。扫描速度快(几分钟到一小时),数据采集与分析全程自动化。
适用样品形态细棒状或填充于毛细管中的粉末。平板状的粉末或块状样品。
主要优点结构简单,可一次性获得所有衍射环信息。方便、快速、精确、自动化,可进行精确的定性和定量分析。
主要缺点耗时长、精度低、无法精确测量强度、数据处理困难。仪器相对复杂、成本较高;一次只能获得一个角度的数据(点探测器)。
当前应用主要用于教学演示或某些特殊研究领域,在常规分析中已被基本淘汰。现代X射线衍射分析的绝对主流和标准方法

表2:现代XRD衍射仪中不同计数器的对比

计数器是衍射仪的“眼睛”,其性能直接决定了数据的质量。

对比维度正比计数器 (Proportional Counter, PC)闪烁计数器 (Scintillation Counter, SC)锂漂移硅探测器 (Si(Li) Detector)
工作原理基于气体电离和“雪崩效应”,X光子使气体电离,产生可测量的电压脉冲。X光子激发闪烁晶体(如NaI)产生可见光,再由光电倍增管将光信号转为电信号并放大。基于半导体,X光子在半导体中产生大量电子-空穴对,形成电流脉冲。
能量分辨率较好(约30 eV)。可以滤除部分荧光辐射。(约500 eV)。基本不具备分辨不同能量X射线的能力。极佳(约3.8 eV)。是三者中最好的,能量分辨率最高。
计数效率较高。很高,对常用波长的X射线接近100%。极高,接近100%。
主要优点① 脉冲大小与入射X光子能量成正比,测量可靠;② 计数迅速,背底低。① 计数效率高;② 性能稳定,经久耐用;③ 结构相对简单,成本适中。能量分辨率极高,可实现“电子单色化”,有效去除荧光和Kβ辐射,无需物理滤光片;② 效率高,无计数损失。
主要缺点对温度和工作电压的稳定性要求高。能量分辨率差,无法有效滤除样品荧光干扰。① 价格昂贵;② 为降低热噪声,通常需要液氮冷却;③ 对污染敏感。
核心应用曾是衍射仪的标准配置,现多被闪烁计数器替代。常规粉末衍射仪中最常用的探测器,性价比高,适用于大多数常规定性和定量分析。主要用于能量色散型X射线衍射仪或需要极高信噪比的研究,其优异的能量分辨率是最大优势。

表3:不同定量分析方法的对比

此表总结了物相定量分析中几种核心方法的原理、适用范围和特点。

定量方法核心思想适用范围与要求优点缺点
直接比较法通过理论计算强度因子C,直接建立衍射强度比与物相含量比的关系。适用于物相的晶体结构和所有物理参数已知的体系,如钢中残余奥氏体定量。无需制备和掺入标准物质。强度因子C的计算复杂,且依赖于许多难以精确获得的物理常数。
(普通)内标法在未知样品中掺入已知量(wₛ)的标准物质(内标物),通过制作标准曲线(Iⱼ/Iₛ vs. wⱼ)进行定量。通用性强,特别适合于粉末样品。要求内标物稳定、衍射峰强且与待测相不重叠。① 能有效校正吸收效应和仪器波动;② 准确度高。① 需要配置一系列标准样品来制作标准曲线,工作量大;② 寻找合适的内标物可能很困难。
K值法(RIR法)内标法的简化和标准化。使用一个预先标定的参比强度值K(RIR),直接通过强度比和K值计算含量,无需制作标准曲线。目前应用最广泛、最实用的粉末定量方法。要求有准确的K值数据库(如PDF卡片提供)。无需制作标准曲线,快速简便;② 可任意选择内标物含量;③ 可靠性高。① K值的准确性至关重要;② 样品和内标物的混合均匀性要求高。
外标法将待测试样的衍射强度与在相同条件下单独测量的纯物质(外标物)的强度进行比较。适用于块状样品或薄膜等不便掺入内标物的体系。要求实验条件严格一致① 对样品无污染、无破坏;② 操作简单。① 对仪器的稳定性和样品定位的重复性要求极高;② 无法校正基体吸收效应的差异,误差较大。
增量内标法(加标法)在待测样品中加入已知量待测物相本身,通过测量强度增加量来外推原始含量。适用于待测物相含量较低,或找不到合适内标物的情况。① 提高了低含量组分的检测灵敏度;② 无需其他内标样品,避免了峰位重叠问题。① 破坏了原始样品;② 需要进行多次测量和线性外推。

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